參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1. 外徑尺寸精度：公差范圍±0.005mm~±0.02mm（依據(jù)產(chǎn)品等級）

2. 內孔同軸度：允許偏差≤0.015mm/100mm

3. 表面洛氏硬度：HRC 55-63（淬硬層深度≥0.8mm）

4. 圓度誤差：最大允許值≤0.008mm（采用最小二乘法評定）

5. 材料成分分析：Cr含量12%-18%,，Ni含量8%-11%（針對不銹鋼材質）

6. 表面粗糙度：Ra≤0.4μm（接觸面區(qū)域）

7. 熱處理金相組織：馬氏體等級≤2級（按GB/T 13298評定）

檢測范圍

1. 不銹鋼定位環(huán)（304/316/17-4PH系列）

2. 合金鋼定位環(huán)（40Cr/20CrMnTi/GCr15系列）

3. 銅合金定位環(huán)（H62/QAl9-4系列）

4. 工程塑料定位環(huán)（PEEK/PTFE/尼龍復合材料）

5. 陶瓷定位環(huán)（氧化鋯/氮化硅基材）

6. 表面鍍層定位環(huán)（硬鉻/化學鍍鎳/DLC涂層）

檢測方法

1. 尺寸測量執(zhí)行ISO 286-2:2020《產(chǎn)品幾何技術規(guī)范(GPS)》,、GB/T 3177-2009光滑工件尺寸檢驗

2. 硬度測試依據(jù)ASTM E18-22洛氏硬度標準及GB/T 4340.1-2009維氏硬度試驗

3. 形位公差評定采用ISO 1101:2017幾何公差規(guī)范

4. 材料成分分析按GB/T 223系列鋼鐵及合金化學分析方法

5. 表面粗糙度測量遵循ISO 4288:1996輪廓法評定規(guī)則

6. X射線殘余應力測試參照ASTM E915-20標準方法

檢測設備

1. Hexagon Global Classic 07.10.07三坐標測量機：空間測量精度(1.9+L/250)μm

2. Mitutoyo CV-3200輪廓儀：粗糙度測量范圍Ra0.01-10μm

3. Wilson Rockwell 574臺式硬度計：洛氏標尺HRC/HRA/HRB全量程覆蓋

4. Olympus XRFX-2000 X射線熒光光譜儀：元素分析精度±0.02%

5. Zygo NewView9000白光干涉儀：表面形貌三維重建精度1nm

6. Instron 5985萬能材料試驗機：載荷范圍500N-300kN

7. Keyence VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：最大放大倍數(shù)6000×

8. Elcometer456涂層測厚儀：分辨率0.1μm（磁性/渦流雙模式）

9. Zeiss Axio Imager.A2m金相顯微鏡：配備Clemex圖像分析系統(tǒng)

10. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：殘余應力分析精度±20MPa

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質